能量色散型X射線熒光光譜儀/Thermo Scientific ARL QUANT'X

提高元素分析的質量標準

新型 ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀更高效、更易于操作、 擁有更多的功能，為各個應用領域的制造商和研究人員提供先進的儀器，幫助解決具有挑戰(zhàn)性的分析任務。

分析技術優(yōu)勢如下：

• 快速分析氟（F）到鈾（U）之間的元素

元素的濃度范圍從 < 1 ppm 到 100%

• 多元素同時測量時間10-60秒

• 可選多種進樣器

• 使用 CCD 相機進行樣品成像

• 可調的X射線光斑直徑1- 15 mm，以便適應不同樣品大小

• 高性能電制冷硅漂移探測器（SDD）

• 多功能 XRF 應用軟件

• 薄膜厚度測量和鍍層分析

• UniQuant ™ 獨特技術，無標樣多元素同時分析技術

• 多語言支持

• 可選 TRACEcom，能夠輕松與 LIMS 交互

• 優(yōu)異的機械耐久性，可保證長時間運行

• 設計緊湊，可以輕松移動

• 低噪音，得益于得益于智能控溫風扇

• 全面的自定義和現(xiàn)場應用方法建立功能

• 易于安裝，更易于維護

得益于客戶意見和專家建議，ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀已經發(fā)展成一整套完善的設備，其強大的設計包含經驗證的硬件和全面的軟件，所有軟硬件都由預先安裝的應用程序或現(xiàn)場方法開發(fā)應用提供支持。同時，經驗豐富且及時響 應的服務組織將確保儀器的正常運行。借助賽默飛世爾科技在數(shù)十個XRF 成功應用中積累的豐富專業(yè)知識，分析人員可以集中精力解決每一個分析挑戰(zhàn)。

能量色散型X射線熒光光譜儀建立在豐富成功經驗的基礎上

作為 EDXRF 行業(yè)的參考標準，ARL QUANT'X 久負盛名。自面世以來，ARL QUANT'X 采用多種新技術來推 動 EDXRF性能提高及行業(yè)發(fā)展。ARL QUANT'X 最早推出了第一臺Peltier電制冷Si(Li)探測器，該臺式EDXRF現(xiàn) 已發(fā)展成為一款多功能緊湊型高性能能譜。它的核心是最新一代硅漂移探測器 (SDD)，耦合到快速 CMOS ASIC 前置放大器，兼具高計數(shù)率和高分辨率特性。較大的探測器晶體區(qū)域可確保大的立體角，從而最大限度捕獲由樣品產生的 X 射線。 即使在分析小樣品或使用低至 1 mm 的準直器面 罩時，50瓦特的大功率X射線管也能實現(xiàn)有效激發(fā)。通過9個濾光片組合，可以輕松找到最佳激發(fā)條件。ARL QUANT'X 支持在空氣、氦氣和真空中進行分析，從而確保各類樣品（ 無論液體、松散粉末或固體）均可實現(xiàn)最佳輕元素分析。

提高性能

與上一代產品相比，新型 ARL QUANT'X 結合了改進的電子器件、全新的探測器、增強的 X 射線管以及優(yōu)化的幾何結構，從而提高了靈敏度。如果要測定微量元素，除了需要提 升靈敏度之外，光譜純度也同樣重要。ARL QUANT'X 經過 精心設計，可消除探測器電子器件、分析室、光學器件和 X 射線管產生的所有雜散干擾。 ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀通常以高于 200 Kcps 的輸入計數(shù)率運行，同時在 Mn Kα條件下保持優(yōu)于 140 eV FWHM 的典型分辨率在較短測量時間下依然可以獲得高計數(shù)統(tǒng)計數(shù)據(jù)，從而獲得比上一代產品更加準確的分析結果。

除提升性能外，ARL QUANT'X 還具有體積小的優(yōu)勢，適用于任何實驗室。只需要一個標準電源插座和氦氣（當需要該 氣體時）即可使用。 在儀器接通電源幾分鐘后，Peltier 冷卻 SDD 即可運行，儀器即進入工作狀態(tài)，關機無需等待。

安全至上

使用X射線時，安全至關重要。在 ARL QUANT' X上，通過基于互鎖的自動防故障電路設計和在X射線打開時顯示的清晰警告標志來保證安全。在各次測量之間以及當室蓋打開時，X射線管會關閉，從而進一步增強操作員的安全。ARL QUANT' X符合嚴格的最新國際安全規(guī)則與規(guī)范。

增強型分析軟件

最新的 WinTrace 分析軟件在 Windows 10 下運行，基于多年完善的研究實踐和豐富經驗的先進算法，讓EDXRF分析變得更加靈活。該軟件可針對任何樣品中任何數(shù)量的分析物收集和處理多達 9 個濾光后的光譜。分析程序具有多種算法，可校準所需任意數(shù)量的校準標準品（一個標準品即能進 行校準）。收集光譜后，可隨時重新處理和脫機計算光譜。自動化 X 射線功率調節(jié)功能可保證所有樣品（無論是空氣濾 膜、礦渣、金屬、石油、巖石）都通過其獨特的最佳設置進行 分析。

簡單且用戶友好的界面

在數(shù)字世界中，即使是先進的硬件，如果沒有可以充分發(fā)揮其功能的靈活軟件，它也會受到限制。Method Explorer（ 方法管理器）界面為高級用戶提供每個參數(shù)的訪問權限，允許他們在任何應用中針對關注元素選擇最高測試通量、或者最佳靈敏度的分析條件。只需單擊元素周期表，即可添加或刪除分析元素。使用樹形界面方便查看校準和分析結果。 通過已有方法文件可快速建立自己的方法。使用標準數(shù)據(jù)庫 可集中管理參考物質、標準樣品的所有數(shù)據(jù)。

雖然全面控制和微調功能對于光譜儀十分重要，但是速度和易用性在行業(yè)環(huán)境中最為關鍵。WinTrace 允許使用預先加載的目標方法設置快捷方式。操作員只需輸入樣品名稱，然后單擊即可進行測量。在測量后，光譜圖和分析結果將自動保存到方法中。用戶可方便地將所有分析數(shù)據(jù)存儲在一個位置。

光譜計算

對于任何定量分析，第一個關鍵步驟是從光譜中準確提取峰值強度。高級去卷積算法允許從包含許多元素分析線的復雜光譜中正確提取凈峰值強度。并能自動處理逃逸峰及和峰。預定義的設置適用于大多數(shù)應用，并且可以輕松進行自定義，以應對最困難的情況。

元素分析和鍍層分析

WinTace 軟件提供一系列分析算法，可處理任何類型的樣品，無論樣品是固體、粉末還是涂層。如果分析的元素數(shù)量有限并且有足夠可用的標準品，經驗算法即得到出色的結果基本參數(shù) (FP) 算法可用于任意數(shù)量的元素、標準品和激發(fā)條件的校正。FP厚度分析模塊最多可測量六層（包含任意數(shù) 量的元素）的厚度、質量和組成。也可以脫機重新計算所有等式，從而輕松實現(xiàn)方法優(yōu)化。

受密碼控制的訪問級別

校準方法具有密碼保護選項，防止操作員在使用該方法時意外更改校準參數(shù)或有用數(shù)據(jù)。WinTrace 還提供不同的用戶級別權限，入門級模式允許用戶在短時間培訓下能夠快速完成樣品分析，而高級模式則允許用戶管理員可控制儀器及其校準參數(shù)。

數(shù)據(jù)傳輸

通過可選的TRACEcom 軟件包，WinTrace可輕松與 LIMS交互，從而支持以用戶可選格式共享分析數(shù)據(jù)。該功能有助于將ARL QUANT ' X EDXRF光譜儀集成到自動化實驗室中。

多語言

使用已翻譯成您本國語言的軟件時，總會感到更加簡單?，F(xiàn)在，可按多種內置語言配置用于 ARL QUANT'X EDXRF 的WinTrace。

UniQuant ™高級無標樣分析技術

賽默飛世爾科技公司的綜合性半定量無標樣分析方法稱為 UniQuant，它利用所有過濾片和預設激發(fā)條件設置對氟到鈾的所有元素實現(xiàn)最佳測量。并且可在無用戶干預或優(yōu)化的情況下生成任何未知樣品的最佳曲線。樣品的完整光譜曲線使UniQuant 能夠對所有可能的重疊和背景效應自動進行校正，而這在能量色散光譜的定量分析中尤為復雜。

• 分析所有元素

• 在計算中包括每個樣品的獨特物理性質，即面積、高度和質量

• 空氣或氦氣以及樣品杯膜吸收和雜質均得到校正

• 使用漂移校正樣品對X射線管的長期穩(wěn)定性進行監(jiān)控

• 多種可選擇的報告級別和格式可為各類用戶提供清晰結果

Versatile sample chamber多功能樣品室

批量分析樣品，提高生產效率，并通過大樣品室和多種送樣選配裝置擴展EDXRF的分析通量。模塊化儀器設計允許在應用發(fā)生更改時輕松添加或刪除任何樣品處理選項。

自動進樣器有助于提高生產效率

自動化的 10位和 20位樣品轉盤可批量分析標準的液體樣品杯、粉末壓片、氣溶膠和濾膜。 支持外徑為31 mm 的樣品杯，以及最大外徑為51.5 mm 的鋼環(huán)。

氣體選擇

得益于樣品和探測器之間的緊密耦合，即使是在空氣條件下。仍可檢測輕元素。真空有助于提高固體中輕元素的靈敏度，而氦氣環(huán)境則適用于液體樣品。 惰性氣體可用于腐蝕性材料或不穩(wěn)定的材料的分析，考慮這種情況，我們在樣品分析室使用了耐化學腐蝕材料。

適用于大型樣品

單樣品托盤和大樣品臺可接受異形、較大且不規(guī)則的樣品， 大尺寸分析室足夠容納這類樣品。

分析室擴展

對于體積超大的樣品，例如氣缸體、防塵罩、渦輪碎片、汽車 零部件以及高達 36 cm（14.2 英寸）的任何樣品，也可以通過可選的分析室擴展進行分析，而無需額外的工作或準備。

Sample spinning

1 位和10 位樣品轉換器可配備樣品旋轉器，以進一步降低分析誤差。在分析輕元素時，樣品旋轉尤其重要，對于這些元素，將從樣品表面的幾個原子層生成X射線信息。

分析小樣品或小于1mm 的小斑點

可以在 15mm 至 1mm 的范圍內調整光束尺寸，以便進行快速篩選，方便研究和調查工作。這適用于分析較小樣品或 較大樣品的特定區(qū)域或斑點。

在分析過程中觀察樣品

通過用于樣品成像的 CCD 相機和可調節(jié)的 X射線束直 徑，ARL QUANT'X 允許您選擇需要分析的樣品部位，從而 將XRF光譜儀“體相分析"的高靈敏特點與“微觀"采樣靈活性結合。

X射線系列產品

X 射線光譜儀是一種非常強大的常用技術，可以對各類材料 中的主要、次要和痕量組分進行快速無損的定量分析，包括 固體、粉末、水溶液或有機溶液和分層結構。它在各個行業(yè) 具有多種應用：制藥、環(huán)境監(jiān)測、金屬、水泥、電子、玻璃、聚 合物、陶瓷、耐火材料、地球化學、石油、化工和礦業(yè)。

提供全面的 X射線熒光光譜儀和 X射線衍射儀器（EDXRF、WDXRF、XRD、EDS、ESCA），涵蓋從普通到高度專業(yè)化研究應用的 X射線光譜測定的所有方面。 從多功能ARL QUANT'X到超精密 ARL 9900 X射線工作臺，每臺儀器都將先進的技術與成熟的高質量、耐用性和分析性能結合。

由于這些儀器中使用了 X 射線，請在安裝之前了解所有當?shù)?法律法規(guī)，以避免發(fā)生任何監(jiān)管問題。